Nanoedukator
2014-09-11 17:55:34
- platforma edukacyjna w dziedzinie technik SPM, pozwalająca na zapoznanie się z mikroskopią sił atomowych (AFM)oraz skaningową mikroskopią tunelową (STM)
- rozdzielczość: X-Y 50nm, Z: 3nm (AFM), X-Y 10nm, Z: 2nm (STM)
- maksymalny obszar skanowania 100 x 100 m
- maksymalna średnica próbek 12mm
